X-ray optics made by X-ray lithography: Process optimization and quality control

Grating based X-ray phase contrast imaging sets out to overcome the limits of conventional X-ray imaging in the detection of subtle density differences and opens a way to characterize a sample's microstructure without the need for ultrahigh spatial resolution. The technique relies on grating st...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автор: Koch, Frieder Johannes (auth)
Формат: Частина з книги
Опубліковано: KIT Scientific Publishing 2017
Предмети:
Онлайн доступ:Get Fullteks
DOAB: description of the publication
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!

Інтернет

Get Fullteks
DOAB: description of the publication

3rd Floor Main Library

Детальна інфо про примірники із 3rd Floor Main Library
Шифр: A1234.567
Примірник 1 Доступно