In-Situ X-Ray Tomographic Study of Materials

This book illustrates the exciting possibilities being opened up by X-ray computed tomography (CT) to follow the behavior of materials under conditions as close as possible to those encountered during their manufacture or in operation.The scientific chapters selected for this book describe results o...

Ամբողջական նկարագրություն

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Maire, Eric (Խմբագիր), Adrien, Jerome (Խմբագիր), Withers, Philip John (Խմբագիր)
Ձևաչափ: Գրքի գլուխ
Հրապարակվել է: Basel, Switzerland MDPI - Multidisciplinary Digital Publishing Institute 2020
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Get Fullteks
DOAB: description of the publication
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!

Համացանց

Get Fullteks
DOAB: description of the publication

3rd Floor Main Library

Պահումների մանրամասները 3rd Floor Main Library
Դասիչ: A1234.567
Պատճեն 1 Հասանելի է