3D Double Gate FinFET Construction of 30 nm Technology Node Impact Towards Short Channel Effect

This paper presents an investigation on properties of Double Gate FinFET (DGFinFET) and impact of physical properties of FinFET towards short channel effects (SCEs) for 30 nm device, where depletion-layer widths of the source-drain corresponds to the channel length aside from constant fin height (HF...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автори: F. Roslan, Ameer (Автор), Salehuddin, F. (Автор), M.Zain, A.S (Автор), Kaharudin, K.E (Автор), Hazura, H. (Автор), Hanim, A.R (Автор), Idris, S. K (Автор), Zarina, B.Z (Автор), Maheran A.H, Afifah (Автор)
Формат: EJournal Article
Опубліковано: Institute of Advanced Engineering and Science, 2018-12-01.
Предмети:
Онлайн доступ:Get fulltext
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!

Інтернет

Get fulltext

3rd Floor Main Library

Детальна інфо про примірники із 3rd Floor Main Library
Шифр: A1234.567
Примірник 1 Доступно