Пропуск в контексте
VuFind
Back to Portal
Язык
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Метка
Найти
Расширенный поиск
Сбросить фильтры
Предлагаемые темы:
Literature: history & criticism
И
Literary studies: general
И
Social & cultural history
Сбросить фильтры
Показать фильтры (3)
Предлагаемые темы:
Literature: history & criticism
И
Literary studies: general
И
Social & cultural history
Поиск
3D Double Gate FinFET Construc...
Отправить по sms
Отправить по sms:
3D Double Gate FinFET Construction of 30 nm Technology Node Impact Towards Short Channel Effect
Номер:
Провайдер:
Выбрать носитель
Alltel
AT&T
Cricket
Nextel
Sprint
T Mobile
Verizon
Virgin Mobile