3D Double Gate FinFET Construction of 30 nm Technology Node Impact Towards Short Channel Effect

This paper presents an investigation on properties of Double Gate FinFET (DGFinFET) and impact of physical properties of FinFET towards short channel effects (SCEs) for 30 nm device, where depletion-layer widths of the source-drain corresponds to the channel length aside from constant fin height (HF...

Volledige beschrijving

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs: F. Roslan, Ameer (Auteur), Salehuddin, F. (Auteur), M.Zain, A.S (Auteur), Kaharudin, K.E (Auteur), Hazura, H. (Auteur), Hanim, A.R (Auteur), Idris, S. K (Auteur), Zarina, B.Z (Auteur), Maheran A.H, Afifah (Auteur)
Formaat: EJournal Article
Gepubliceerd in: Institute of Advanced Engineering and Science, 2018-12-01.
Onderwerpen:
Online toegang:Get fulltext
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!

Internet

Get fulltext

3rd Floor Main Library

Exemplaargegevens van 3rd Floor Main Library
Plaatsingsnummer: A1234.567
Kopie 1 Beschikbaar