3D Double Gate FinFET Construction of 30 nm Technology Node Impact Towards Short Channel Effect

This paper presents an investigation on properties of Double Gate FinFET (DGFinFET) and impact of physical properties of FinFET towards short channel effects (SCEs) for 30 nm device, where depletion-layer widths of the source-drain corresponds to the channel length aside from constant fin height (HF...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Główni autorzy: F. Roslan, Ameer (Autor), Salehuddin, F. (Autor), M.Zain, A.S (Autor), Kaharudin, K.E (Autor), Hazura, H. (Autor), Hanim, A.R (Autor), Idris, S. K (Autor), Zarina, B.Z (Autor), Maheran A.H, Afifah (Autor)
Format: EJournal Article
Wydane: Institute of Advanced Engineering and Science, 2018-12-01.
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Get fulltext
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

Internet

Get fulltext

3rd Floor Main Library

Szczegóły zapisu 3rd Floor Main Library
Sygnatura: A1234.567
Egzemplarz 1 Dostępne