3D Double Gate FinFET Construction of 30 nm Technology Node Impact Towards Short Channel Effect

This paper presents an investigation on properties of Double Gate FinFET (DGFinFET) and impact of physical properties of FinFET towards short channel effects (SCEs) for 30 nm device, where depletion-layer widths of the source-drain corresponds to the channel length aside from constant fin height (HF...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главные авторы: F. Roslan, Ameer (Автор), Salehuddin, F. (Автор), M.Zain, A.S (Автор), Kaharudin, K.E (Автор), Hazura, H. (Автор), Hanim, A.R (Автор), Idris, S. K (Автор), Zarina, B.Z (Автор), Maheran A.H, Afifah (Автор)
Формат: EJournal Article
Опубликовано: Institute of Advanced Engineering and Science, 2018-12-01.
Предметы:
Online-ссылка:Get fulltext
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!

Internet

Get fulltext

3rd Floor Main Library

Подробно о фондах из 3rd Floor Main Library
Шифр: A1234.567
Копировать 1 Доступно