Ցուցադրվում են 1 - 2 արդյունքները 2 այս փնտրման համար 'Das, Debaprasad', հարցման ժամանակը: 0.01s Հստակեցնել արդյունքները
  1. 1
    A Comprehensive Review on Applications of Don't Care Bit Filling Techniques for Test Power Reduction in Digital VLSI Systems
    Mitra, Sanjoy, Das, Debaprasad
    Հրապարակվել է 2018
    Get fulltext
    EJournal Article
    Պահել ցուցակում
    Պահպանված է:
  2. 2
    A SoC-IP Core Test Data Compression Scheme based on Error Correcting Hamming Codes
    Mitra, Sanjoy, Das, Debaprasad
    Հրապարակվել է 2018
    Get fulltext
    EJournal Article
    Պահել ցուցակում
    Պահպանված է:
Որոնման գործիքներ: Ստացեք RSS հոսք – Էլփոստով ուղարկեք այս փնտրումը