検索結果 1 - 2 結果 / 2 検索語 'Das, Debaprasad', 処理時間: 0.01秒 結果の絞り込み
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    A Comprehensive Review on Applications of Don't Care Bit Filling Techniques for Test Power Reduction in Digital VLSI Systems
    著者: Mitra, Sanjoy, Das, Debaprasad
    出版事項 2018
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    A SoC-IP Core Test Data Compression Scheme based on Error Correcting Hamming Codes
    著者: Mitra, Sanjoy, Das, Debaprasad
    出版事項 2018
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