In-Situ X-Ray Tomographic Study of Materials

This book illustrates the exciting possibilities being opened up by X-ray computed tomography (CT) to follow the behavior of materials under conditions as close as possible to those encountered during their manufacture or in operation.The scientific chapters selected for this book describe results o...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Другие авторы: Maire, Eric (Редактор), Adrien, Jerome (Редактор), Withers, Philip John (Редактор)
Формат: Глава книги
Опубликовано: Basel, Switzerland MDPI - Multidisciplinary Digital Publishing Institute 2020
Предметы:
Online-ссылка:Get Fullteks
DOAB: description of the publication
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!

Internet

Get Fullteks
DOAB: description of the publication

3rd Floor Main Library

Подробно о фондах из 3rd Floor Main Library
Шифр: A1234.567
Копировать 1 Доступно