A Comprehensive Review on Applications of Don't Care Bit Filling Techniques for Test Power Reduction in Digital VLSI Systems
Massive power consumption during VLSI testing is a serious threat to reliability concerns of ubiquitous silicon industry. A significant amount of low-power methodologies are proposed in the relevant literature to address this issue of test mode power consumption and don't care bit(X) filling ap...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | , |
|---|---|
| অন্যান্য লেখক: | |
| বিন্যাস: | EJournal Article |
| প্রকাশিত: |
Institute of Advanced Engineering and Science,
2018-12-01.
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | Get fulltext |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
আন্তর্জাল
Get fulltext3rd Floor Main Library
| ডাক সংখ্যা: |
A1234.567 |
|---|---|
| প্রতিলিপি 1 | লভ্য |